반도체 소자 파라미터 추출기

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소개

MOSFET·다이오드 측정 파일(CSV/TSV)을 올리면 문턱전압, 아문턱 기울기, 이동도, 채널길이 변조, 이상계수, 직렬저항을 여러 기법으로 한꺼번에 뽑아 비교하는 도구입니다. 모든 계산은 브라우저 안에서 이루어집니다.

누구를 위한 도구인가요

측정 장비에서 받은 I–V 데이터를 엑셀에서 손으로 맞춤(fitting)하던 연구실 학생과 엔지니어를 위해 만들었습니다. 같은 데이터에 기법을 바꿔 적용했을 때 값이 얼마나 달라지는지 한눈에 보는 것이 목적입니다.

데이터는 어디로 가나요

어디로도 가지 않습니다. 올린 파일은 브라우저 메모리에서만 읽히고, 서버로 전송되거나 저장되지 않습니다. 회원가입도 로그인도 없습니다. 자세한 내용은 개인정보처리방침에 적어두었습니다.

결과의 한계

추출값은 참고용입니다. 기법마다 가정이 다르고, 맞춤 구간 선택에 따라 값이 달라집니다. 결과표의 맞춤 구간과 비고를 확인한 뒤 사용하세요. 각 기법의 원리와 한계는 첫 화면 맨 아래 "기법 원리와 한계"에 정리되어 있습니다.

문의

계산 오류, 지원했으면 하는 장비 형식, 추가 기법 제안은 macultist@gmail.com으로 보내주세요.